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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第232位 190件
(2013年:第251位 186件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第251位 157件
(2013年:第252位 155件)
(ランキング更新日:2025年5月30日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 5530343 | 測定装置および判定方法 | 2014年 6月25日 | |
特許 5523202 | 絶縁検査装置 | 2014年 6月18日 | |
特許 5525144 | 波形判定装置および該波形判定装置における時間軸位置調整方法 | 2014年 6月18日 | |
特許 5518657 | 接地抵抗計 | 2014年 6月11日 | |
特許 5511200 | 回路基板検査装置におけるプローブピンのオフセット量取得方法 | 2014年 6月 4日 | |
特許 5510964 | 導通検査方法 | 2014年 6月 4日 | |
特許 5512384 | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | 2014年 6月 4日 | |
特許 5512368 | 検査装置および検査方法 | 2014年 6月 4日 | |
特許 5507428 | 測定装置 | 2014年 5月28日 | |
特許 5507165 | 検査装置および良否判別装置 | 2014年 5月28日 | |
特許 5507430 | 回路基板検査装置 | 2014年 5月28日 | |
特許 5501869 | 波形表示装置および波形表示方法 | 2014年 5月28日 | |
特許 5501858 | 測定装置 | 2014年 5月28日 | |
特許 5501735 | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | 2014年 5月28日 | |
特許 5507363 | 回路基板検査装置および回路基板検査方法 | 2014年 5月28日 |
157 件中 61-75 件を表示
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5530343 5523202 5525144 5518657 5511200 5510964 5512384 5512368 5507428 5507165 5507430 5501869 5501858 5501735 5507363
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