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日置電機株式会社

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  2014年 出願公開件数ランキング    第232位 190件 上昇2013年:第251位 186件)

  2014年 特許取得件数ランキング    第251位 157件 上昇2013年:第252位 155件)

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特許 5530343 測定装置および判定方法 2014年 6月25日
特許 5523202 絶縁検査装置 2014年 6月18日
特許 5525144 波形判定装置および該波形判定装置における時間軸位置調整方法 2014年 6月18日
特許 5518657 接地抵抗計 2014年 6月11日
特許 5511200 回路基板検査装置におけるプローブピンのオフセット量取得方法 2014年 6月 4日
特許 5510964 導通検査方法 2014年 6月 4日
特許 5512384 回路基板検査装置および回路基板検査方法 2014年 6月 4日
特許 5512368 検査装置および検査方法 2014年 6月 4日
特許 5507428 測定装置 2014年 5月28日
特許 5507165 検査装置および良否判別装置 2014年 5月28日
特許 5507430 回路基板検査装置 2014年 5月28日
特許 5501869 波形表示装置および波形表示方法 2014年 5月28日
特許 5501858 測定装置 2014年 5月28日
特許 5501735 回路基板検査装置および回路基板検査方法 2014年 5月28日
特許 5507363 回路基板検査装置および回路基板検査方法 2014年 5月28日

157 件中 61-75 件を表示

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5530343 5523202 5525144 5518657 5511200 5510964 5512384 5512368 5507428 5507165 5507430 5501869 5501858 5501735 5507363

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