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日置電機株式会社

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  2013年 出願公開件数ランキング    第251位 186件 上昇2012年:第261位 163件)

  2013年 特許取得件数ランキング    第252位 155件 上昇2012年:第348位 106件)

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公報番号発明の名称公報発行日備考
特許 5215004 絶縁検査方法および絶縁検査装置 2013年 6月19日
特許 5213536 抵抗測定装置及び回路基板検査装置 2013年 6月19日
特許 5213114 導通検査方法及び導通検査装置 2013年 6月19日
特許 5215263 測定データ回収方法、測定データ回収装置、測定データ記録装置および測定システム 2013年 6月19日
特許 5215253 球状体供給装置、球状体搭載装置および球状体供給方法 2013年 6月19日
特許 5208787 回路基板検査装置および回路基板検査方法 2013年 6月12日
特許 5208701 絶縁検査方法および絶縁検査装置 2013年 6月12日
特許 5208619 プローブおよびプローブユニット 2013年 6月12日
特許 5210729 接点ばね及びスライドスイッチ 2013年 6月12日
特許 5210728 スライドスイッチ 2013年 6月12日
特許 5203724 絶縁抵抗計 2013年 6月 5日
特許 5203688 測定装置 2013年 6月 5日
特許 5203079 基板固定装置 2013年 6月 5日
特許 5198326 抵抗測定装置 2013年 5月15日
特許 5198040 制御装置、検査装置および制御方法 2013年 5月15日

155 件中 91-105 件を表示

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5215004 5213536 5213114 5215263 5215253 5208787 5208701 5208619 5210729 5210728 5203724 5203688 5203079 5198326 5198040

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