株式会社トプコン
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第430位 93件
（
2012年：第409位 98件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第387位 97件
（2012年：第243位 154件）
（ランキング更新日：2024年11月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社トプコンの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5145029 | 測量機及び測量補正方法 | 2013年 2月13日 | |
| 特許 5144579 | 眼科観察装置 | 2013年 2月13日 | |
| 特許 5145013 | 測量機 | 2013年 2月13日 | |
| 特許 5145011 | レーザ測量システム | 2013年 2月13日 | |
| 特許 5143541 | 玉型形状測定装置 | 2013年 2月13日 | 共同出願 |
| 特許 5139792 | 玉型形状測定装置 | 2013年 2月 6日 | 共同出願 |
| 特許 5138977 | 光画像計測装置 | 2013年 2月 6日 | |
| 特許 5139706 | 半導体集積回路チップ検査装置 | 2013年 2月 6日 | |
| 特許 5138172 | 光部品およびその製造方法 | 2013年 2月 6日 | |
| 特許 5129979 | 自覚式検眼装置 | 2013年 1月30日 | |
| 特許 5134920 | 回転レーザ測量機 | 2013年 1月30日 | |
| 特許 5128806 | 自覚式検眼装置 | 2013年 1月23日 | |
| 特許 5128835 | レーザ光受光位置検出センサ及びこれを用いたレベル装置 | 2013年 1月23日 | |
| 特許 5124321 | 測定システム | 2013年 1月23日 | |
| 特許 5124319 | 測量機、測量システム、測定対象の検出方法、および測定対象の検出プログラム | 2013年 1月23日 |
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5145029 5144579 5145013 5145011 5143541 5139792 5138977 5139706 5138172 5129979 5134920 5128806 5128835 5124321 5124319
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12月2日(月) -
12月4日(水) - 東京 千代田区
12月4日(水) - 東京 港区
12月4日(水) -
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12月5日(木) - 東京 港区
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12月6日(金) -
12月6日(金) - 愛知 豊橋市花田町
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12月2日(月) - 滋賀 草津市
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