※ ログインすれば出願人(株式会社トプコン)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2014年 出願公開件数ランキング 第418位 88件 (2013年:第430位 93件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第393位 93件 (2013年:第387位 97件)
(ランキング更新日:2024年11月26日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 5432625 | 眼科観察装置 | 2014年 3月 5日 | |
特許 5432545 | 対象物検出装置 | 2014年 3月 5日 | |
特許 5435918 | 玉型形状測定方法及びその装置 | 2014年 3月 5日 | 共同出願 |
特許 5430138 | 形状測定装置およびプログラム | 2014年 2月26日 | |
特許 5421624 | 三次元計測用画像撮影装置 | 2014年 2月19日 | |
特許 5415902 | 眼科観察装置 | 2014年 2月12日 | |
特許 5415812 | 光画像計測装置及びその制御方法 | 2014年 2月12日 | |
特許 5415884 | 軸出器 | 2014年 2月12日 | 共同出願 |
特許 5407029 | 玉型形状測定装置 | 2014年 2月 5日 | |
特許 5406427 | 断層画像処理方法、装置およびプログラムならびにこれを用いた光断層画像化システム | 2014年 2月 5日 | |
特許 5400481 | 光画像計測装置 | 2014年 1月29日 | |
特許 5404078 | 光画像計測装置 | 2014年 1月29日 | |
特許 5394902 | 眼科装置 | 2014年 1月22日 | |
特許 5386224 | 検眼装置 | 2014年 1月15日 | |
特許 5390371 | 光画像計測装置及び光アッテネータ | 2014年 1月15日 |
93 件中 76-90 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
5432625 5432545 5435918 5430138 5421624 5415902 5415812 5415884 5407029 5406427 5400481 5404078 5394902 5386224 5390371
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社トプコンの知財の動向チェックに便利です。
11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月26日(火) -
12月2日(月) - 滋賀 草津市
新製品開発の「タネ」がみつかる!株式会社リコーによるシーズ発表会 ~リコーの技術(シーズ)やアイデアを使って新製品をつくりませんか?~
12月2日(月) -
12月4日(水) - 東京 千代田区
12月4日(水) - 東京 港区
12月4日(水) -
12月4日(水) - 大阪 大阪市
12月5日(木) - 東京 港区
12月5日(木) -
12月5日(木) -
12月5日(木) - 大阪 大阪市
【特別講演】第8回 前コミュ 生成AIでビジネスチャンスをつかむ前に、生成AI導入に待ち構える法的ハードルを越える方法 ~ つながりを育む出会いの場(知財ネットワーク交流会)~
12月6日(金) -
12月6日(金) - 愛知 豊橋市花田町
12月6日(金) -
12月2日(月) - 滋賀 草津市
新製品開発の「タネ」がみつかる!株式会社リコーによるシーズ発表会 ~リコーの技術(シーズ)やアイデアを使って新製品をつくりませんか?~
〒445-0802 愛知県西尾市米津町蓮台6-10 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒166-0003 東京都杉並区高円寺南2-50-2 YSビル3F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒210-0024 神奈川県川崎市川崎区日進町3-4 unicoA 303 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング