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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第34位 1161件
(2012年:第31位 1203件)
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第34位 975件
(2012年:第40位 784件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2013-29830 | 表示装置 | 2013年 2月 7日 | |
特開 2013-30263 | 駆動回路 | 2013年 2月 7日 | |
特開 2013-29847 | 表示装置 | 2013年 2月 7日 | |
特開 2013-29843 | 半導体装置、表示装置及び電子機器 | 2013年 2月 7日 | |
特開 2013-30265 | 半導体記憶装置 | 2013年 2月 7日 | |
特開 2013-30783 | 半導体装置 | 2013年 2月 7日 | |
特開 2013-30764 | 半導体基板の再生方法、再生半導体基板の作製方法、及びSOI基板の作製方法 | 2013年 2月 7日 | |
特開 2013-30476 | 発光パネル、発光パネルを用いた発光装置および発光パネルの作製方法 | 2013年 2月 7日 | |
特開 2013-30473 | 非水溶媒及び蓄電装置 | 2013年 2月 7日 | |
特開 2013-30467 | 発光装置および発光装置の作製方法 | 2013年 2月 7日 | |
特開 2013-30464 | 蓄電装置とその電極及び蓄電装置の作製方法 | 2013年 2月 7日 | |
特開 2013-30463 | 電気機器およびその作製方法 | 2013年 2月 7日 | |
特開 2013-30462 | 蓄電装置およびその作製方法 | 2013年 2月 7日 | |
特開 2013-24570 | 燐光測定方法 | 2013年 2月 4日 | |
特開 2013-26461 | 半導体基板の評価方法 | 2013年 2月 4日 |
1161 件中 1006-1020 件を表示
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2013-29830 2013-30263 2013-29847 2013-29843 2013-30265 2013-30783 2013-30764 2013-30476 2013-30473 2013-30467 2013-30464 2013-30463 2013-30462 2013-24570 2013-26461
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