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富士通セミコンダクター株式会社
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第103位 453件
（
2011年：第93位 464件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第59位 620件
（2011年：第53位 577件）
（ランキング更新日：2025年5月30日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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富士通セミコンダクター株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2012-243793 | 半導体装置の製造方法 | 2012年12月10日 | |
| 特開 2012-244520 | フレーム間予測処理装置および画像処理装置 | 2012年12月10日 | |
| 特開 2012-237869 | フォトマスク及びその製造方法 | 2012年12月 6日 | |
| 特開 2012-238739 | 半導体装置 | 2012年12月 6日 | |
| 特開 2012-237935 | 画像処理装置、フォーカス制御方法、及び撮像装置 | 2012年12月 6日 | |
| 特開 2012-239132 | 画像処理装置、画像処理方法、撮像装置 | 2012年12月 6日 | |
| 特開 2012-238801 | 欠陥検査方法、半導体装置の製造方法及び欠陥検査装置 | 2012年12月 6日 | |
| 特開 2012-238355 | 書き込み制御回路及び半導体装置 | 2012年12月 6日 | |
| 特開 2012-238089 | 集積回路装置、検証装置及び検証方法 | 2012年12月 6日 | |
| 特開 2012-239003 | ＡＤ変換器およびＡＤ変換方法 | 2012年12月 6日 | |
| 特開 2012-238356 | 半導体記憶装置 | 2012年12月 6日 | |
| 特開 2012-238734 | 半導体装置の製造方法及半導体製造装置 | 2012年12月 6日 | |
| 特開 2012-234907 | 半導体素子の検査方法 | 2012年11月29日 | |
| 特開 2012-234892 | レイアウト設計方法及びレイアウト設計装置 | 2012年11月29日 | |
| 特開 2012-233224 | めっき装置及び半導体装置の製造方法 | 2012年11月29日 |
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2012-243793 2012-244520 2012-237869 2012-238739 2012-237935 2012-239132 2012-238801 2012-238355 2012-238089 2012-239003 2012-238356 2012-238734 2012-234907 2012-234892 2012-233224
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