特許ランキング - 出願人詳細情報 -

ホーム > 特許ランキング > 日本オプネクスト株式会社 > 2012年 > 特許一覧

日本オプネクスト株式会社

※ ログインすれば出願人(日本オプネクスト株式会社)をリストに登録できます。ログインについて

  2012年 出願公開件数ランキング    第982位 29件 下降2011年:第652位 51件)

  2012年 特許取得件数ランキング    第787位 39件 上昇2011年:第1147位 22件)

(ランキング更新日:2025年8月8日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年  2013年  2014年  2015年  2016年  2017年  2018年  2019年  2020年  2021年  2022年  2023年  2024年  2025年 

公報番号発明の名称公報発行日備考
特許 4953392 光半導体装置 2012年 6月13日
特許 4951267 半導体レーザ素子の製造方法 2012年 6月13日
特許 4948469 半導体光デバイス 2012年 6月 6日
特許 4943067 リーダライタ、光送受信モジュール、およびケーブルシステム 2012年 5月30日
特許 4934344 半導体光集積素子及び半導体光集積デバイス 2012年 5月16日
特許 4934271 単一電源駆動光集積装置 2012年 5月16日
特許 4928927 面発光半導体レーザ素子 2012年 5月 9日
特許 4928988 半導体光装置およびその製造方法 2012年 5月 9日
特許 4922239 光送信器、及びフレキシブル基板 2012年 4月25日
特許 4919833 光電変換モジュール 2012年 4月18日
特許 4913093 光通信モジュールおよび光学結合部被覆部材 2012年 4月11日
特許 4907636 光通信モジュール 2012年 4月 4日
特許 4892467 レーザ装置およびその制御方法 2012年 3月 7日
特許 4892514 光通信モジュールおよびフレキシブルプリント基板 2012年 3月 7日
特許 4882088 波長可変レーザ装置及びその波長制御方法 2012年 2月22日

39 件中 16-30 件を表示

をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

4953392 4951267 4948469 4943067 4934344 4934271 4928927 4928988 4922239 4919833 4913093 4907636 4892467 4892514 4882088

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。日本オプネクスト株式会社の知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

  • このサイトをYahoo!ブックマークに登録
  • はてなブックマークに追加

特許ランキング

2025年 特許出願件数2025年 特許取得件数
2024年 特許出願件数2024年 特許取得件数
2023年 特許出願件数2023年 特許取得件数
2022年 特許出願件数2022年 特許取得件数
2021年 特許出願件数2021年 特許取得件数
2020年 特許出願件数2020年 特許取得件数
2019年 特許出願件数2019年 特許取得件数
2018年 特許出願件数2018年 特許取得件数
2017年 特許出願件数2017年 特許取得件数
2016年 特許出願件数2016年 特許取得件数
2015年 特許出願件数2015年 特許取得件数
2014年 特許出願件数2014年 特許取得件数
2013年 特許出願件数2013年 特許取得件数
2011年 特許出願件数2011年 特許取得件数
出願人を検索

特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介

渡辺国際特許事務所

*毎日新聞ビル(梅田)* 〒530-0001 大阪市北区梅田3丁目4番5号 毎日新聞ビル9階 *高槻事務所* 〒569-1116 大阪府高槻市白梅町4番14号1602号室 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング 

イージスエイド特許事務所

東京都新宿区四谷2-12-5 四谷ISYビル3階 PDI特許商標事務所内 特許・実用新案 訴訟 鑑定 コンサルティング 

日本知財サービス 特許出願・商標登録事務所

〒106-6111 東京都港区六本木6丁目10番1号 六本木ヒルズ森タワー 11階 横浜駅前オフィス:  〒220-0004  神奈川県横浜市西区北幸1丁目11ー1 水信ビル 7階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング