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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第3位 5326件
(2013年:第3位 6655件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第4位 4016件
(2013年:第5位 4498件)
(ランキング更新日:2025年3月5日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 5479227 | 半導体装置 | 2014年 4月23日 | |
特許 5481415 | 気相成長装置、及び気相成長方法 | 2014年 4月23日 | |
特許 5481255 | 排水処理装置および排水処理方法 | 2014年 4月23日 | |
特許 5481057 | 有機電界発光素子 | 2014年 4月23日 | |
特許 5481416 | 気相成長装置、及び気相成長方法 | 2014年 4月23日 | |
特許 5479192 | 蒸気タービンプラント | 2014年 4月23日 | |
特許 5479191 | 蒸気タービンプラント | 2014年 4月23日 | |
特許 5481551 | はんだ接合部の寿命予測方法、はんだ接合部の寿命予測装置、及び電子機器 | 2014年 4月23日 | |
特許 5481454 | 流量センサ、マスフローコントローラ、および流量センサの製造方法 | 2014年 4月23日 | |
特許 5481309 | 二次電池装置およびその製造方法 | 2014年 4月23日 | |
特許 5481154 | 電磁気応用濃度計 | 2014年 4月23日 | |
特許 5481152 | 中性子顕微鏡及び中性子透過拡大画像形成方法 | 2014年 4月23日 | |
特許 5479288 | 計装システム | 2014年 4月23日 | |
特許 5479070 | 光学像強度算出方法、パターン生成方法、半導体装置の製造方法および光学像強度分布算出プログラム | 2014年 4月23日 | |
特許 5481238 | ビル監視制御システムおよびビル監視制御方法 | 2014年 4月23日 |
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5479227 5481415 5481255 5481057 5481416 5479192 5479191 5481551 5481454 5481309 5481154 5481152 5479288 5479070 5481238
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特許制度に詳しい方にこそ知って欲しい意匠権の使い方 ~コスパの高い意匠権を使って事業を守る方法を、特許権と比較して解説~
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