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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第30位 1262件 (2011年:第28位 1411件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第27位 1069件 (2011年:第29位 1001件)
(ランキング更新日:2024年12月27日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2012-83820 | 非接触型情報媒体及び非接触型情報媒体付属冊子 | 2012年 4月26日 | |
特開 2012-83655 | 偽造防止媒体およびその製造方法、並びに偽造防止媒体を有する接着ラベル | 2012年 4月26日 | |
特開 2012-83477 | 偽造防止構造体、及び偽造防止媒体 | 2012年 4月26日 | |
特開 2012-81999 | 2段容器 | 2012年 4月26日 | |
特開 2012-81989 | 蓋材およびその製造方法 | 2012年 4月26日 | |
特開 2012-81967 | 再封機能付き包装袋 | 2012年 4月26日 | |
特開 2012-84295 | 高分子電解質およびポリマー化可能な基を有するイオン性材料 | 2012年 4月26日 | |
特開 2012-82276 | プロトン輸送材料およびそれからなる高分子膜 | 2012年 4月26日 | |
再表 2010-61705 | コーティング液、ガスバリア性積層体 | 2012年 4月26日 | |
特開 2012-84787 | 半導体装置 | 2012年 4月26日 | |
特開 2012-84210 | 半導体装置 | 2012年 4月26日 | |
特開 2012-83189 | 反射防止フィルム欠陥検査装置 | 2012年 4月26日 | |
特開 2012-83128 | 学習型欠陥弁別処理システム、方法及びプログラム | 2012年 4月26日 | |
特開 2012-83535 | 露光装置及び露光方法 | 2012年 4月26日 | |
特開 2012-83400 | 濃度分布マスク | 2012年 4月26日 |
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2012-83820 2012-83655 2012-83477 2012-81999 2012-81989 2012-81967 2012-84295 2012-82276 2010-61705 2012-84787 2012-84210 2012-83189 2012-83128 2012-83535 2012-83400
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