三菱電機株式会社
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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第5位 4844件
（
2013年：第6位 5279件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第2位 5317件
（2013年：第3位 4919件）
（ランキング更新日：2025年8月7日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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三菱電機株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5617761 | 計算機システム、計算機、及び計算機システムの割込み処理方法 | 2014年11月 5日 | |
| 特許 5619233 | 情報管理システム及び情報管理方法 | 2014年11月 5日 | |
| 特許 5619184 | 光ディスク装置、光ディスクおよび光ディスク検査方法 | 2014年11月 5日 | |
| 特許 5619152 | 半導体装置 | 2014年11月 5日 | |
| 特許 5619079 | 高耐圧半導体装置 | 2014年11月 5日 | |
| 特許 5618976 | 開閉器 | 2014年11月 5日 | |
| 特許 5618963 | 半導体装置 | 2014年11月 5日 | |
| 特許 5618920 | プラグイン回路遮断器 | 2014年11月 5日 | |
| 特許 5618919 | 開閉器のさし込み接続装置 | 2014年11月 5日 | |
| 特許 5618897 | シールドケーブル用ノイズフィルタ | 2014年11月 5日 | |
| 特許 5618848 | 真空開閉装置 | 2014年11月 5日 | |
| 特許 5618847 | 真空開閉装置 | 2014年11月 5日 | |
| 特許 5618781 | 開閉装置 | 2014年11月 5日 | |
| 特許 5618662 | 半導体素子の特性測定方法および半導体装置の製造方法 | 2014年11月 5日 | |
| 特許 5618613 | 半導体装置 | 2014年11月 5日 |
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5617761 5619233 5619184 5619152 5619079 5618976 5618963 5618920 5618919 5618897 5618848 5618847 5618781 5618662 5618613
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