キヤノン株式会社
※ ログインすれば出願人(キヤノン株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2014年 出願公開件数ランキング 第2位 6727件
（
2013年：第2位 7638件）
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第1位 5392件
（
2013年：第2位 5572件）
（ランキング更新日：2025年1月10日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
キヤノン株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5599022 | ズームレンズ及びそれを有する撮像装置 | 2014年10月 1日 | |
| 特許 5597273 | 撮像装置及び画像処理方法 | 2014年10月 1日 | |
| 特許 5600719 | 現像部材、プロセスカートリッジおよび電子写真装置 | 2014年10月 1日 | |
| 特許 5600516 | 撮像装置 | 2014年10月 1日 | |
| 特許 5599059 | 画像形成装置 | 2014年10月 1日 | |
| 特許 5599058 | トナー | 2014年10月 1日 | |
| 特許 5599048 | 画像形成装置 | 2014年10月 1日 | |
| 特許 5599046 | 電子写真感光体の製造方法 | 2014年10月 1日 | |
| 特許 5599039 | 像ブレ補正機能付き光学装置 | 2014年10月 1日 | |
| 特許 5597243 | 撮像装置 | 2014年10月 1日 | |
| 特許 5597093 | 画像形成装置 | 2014年10月 1日 | |
| 特許 5597092 | 撮像装置、その制御方法およびプログラム | 2014年10月 1日 | |
| 特許 5597089 | 画像形成装置 | 2014年10月 1日 | |
| 特許 5597078 | 撮像装置及びその制御方法 | 2014年10月 1日 | |
| 特許 5597062 | 電子機器 | 2014年10月 1日 |
5392 件中 931-945 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
5599022 5597273 5600719 5600516 5599059 5599058 5599048 5599046 5599039 5597243 5597093 5597092 5597089 5597078 5597062
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。キヤノン株式会社の知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
1月14日(火) - 東京 港区
1月15日(水) -
1月15日(水) - 東京 千代田区
1月15日(水) -
1月15日(水) -
1月16日(木) - 石川 金沢市
1月16日(木) -
1月17日(金) - 東京 渋谷区
1月17日(金) -
1月17日(金) -
1月18日(土) -
1月14日(火) - 東京 港区
1月20日(月) -
1月21日(火) -
1月21日(火) -
1月21日(火) - 東京 港区
1月21日(火) - 大阪 大阪市
1月22日(水) - 東京 港区
1月22日(水) -
1月22日(水) -
1月22日(水) - 大阪 大阪市
1月22日(水) - 東京 千代田区
1月22日(水) -
1月22日(水) -
1月22日(水) -
1月23日(木) -
1月23日(木) -
1月23日(木) - 東京 港区
1月23日(木) -
1月23日(木) -
1月23日(木) -
1月23日(木) -
1月24日(金) - 東京 港区
1月24日(金) - 東京 千代田区
1月24日(金) -
1月24日(金) - 東京 千代田区
1月24日(金) - 大阪 大阪市
1月24日(金) - 神奈川 川崎市
1月24日(金) - 東京 千代田区
1月20日(月) -
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
〒445-0802 愛知県西尾市米津町蓮台６－１０ 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒１６６－０００３ 東京都杉並区高円寺南２－５０－２ ＹＳビル３Ｆ 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
愛知県名古屋市天白区中平三丁目2702番地 グランドールＳ 203号 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
