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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第385位 107件
(2011年:第601位 58件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第306位 119件
(2011年:第428位 77件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2012-256455 | 除電器 | 2012年12月27日 | |
特開 2012-256456 | 除電器 | 2012年12月27日 | |
特開 2012-230401 | 拡大観察装置、拡大観察方法及び拡大観察プログラム | 2012年11月22日 | |
特開 2012-221762 | 除電装置 | 2012年11月12日 | |
特開 2012-221761 | 除電装置及び除電制御方法 | 2012年11月12日 | |
特開 2012-221901 | 除電装置及び放電針ユニット | 2012年11月12日 | |
特開 2012-198936 | 光学式情報読取装置 | 2012年10月18日 | |
特開 2012-186514 | 画像処理装置、画像処理方法及びコンピュータプログラム | 2012年 9月27日 | |
特開 2012-181197 | センサアンプ管理装置及びコンピュータプログラム | 2012年 9月20日 | |
特開 2012-175141 | 撮像装置及び撮像システム | 2012年 9月10日 | |
特開 2012-168013 | 欠陥検出装置、欠陥検出方法及びコンピュータプログラム | 2012年 9月 6日 | |
特開 2012-167963 | 画像検査装置、画像検査方法、及びコンピュータプログラム | 2012年 9月 6日 | |
特開 2012-164670 | 多光軸光電センサ | 2012年 8月30日 | |
特開 2012-159409 | 寸法測定装置、寸法測定方法及び寸法測定装置用のプログラム | 2012年 8月23日 | |
特開 2012-159410 | 寸法測定装置、寸法測定方法及び寸法測定装置用のプログラム | 2012年 8月23日 |
107 件中 1-15 件を表示
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2012-256455 2012-256456 2012-230401 2012-221762 2012-221761 2012-221901 2012-198936 2012-186514 2012-181197 2012-175141 2012-168013 2012-167963 2012-164670 2012-159409 2012-159410
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2月17日(月) - 大阪 大阪市
(オンライン参加可)体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする?~海外で商標権がバッティング?オープンファクトリーの知財リスク?~
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2月20日(木) -
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2月20日(木) - 東京 千代田区
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パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
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(オンライン参加可)体験談から学ぶ知的財産権 その時どうする?~海外で商標権がバッティング?オープンファクトリーの知財リスク?~
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