株式会社キーエンス
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第385位 107件
（
2011年：第601位 58件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第306位 119件
（2011年：第428位 77件）
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株式会社キーエンスの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2012-64173 | 光学情報読取装置用の設定支援装置 | 2012年 3月29日 | |
| 特開 2012-51032 | レーザ加工装置、レーザ加工データ設定装置、レーザ加工データ設定方法、レーザ加工条件設定プログラム、コンピュータで読み取り可能な記録媒体及び記録した機器 | 2012年 3月15日 | |
| 特開 2012-53059 | 光電センサ及びその設定方法 | 2012年 3月15日 | |
| 特開 2012-44680 | 撮像装置 | 2012年 3月 1日 | |
| 特開 2012-37257 | 測定設定データ作成装置、測定設定データ作成方法及び測定設定データ作成装置用のプログラム | 2012年 2月23日 | |
| 特開 2012-32344 | 画像測定装置、画像測定方法及び画像測定装置用のプログラム | 2012年 2月16日 | |
| 特開 2012-32341 | 測定設定データ作成装置、測定設定データ作成方法、測定設定データ作成装置用のプログラム及び寸法測定装置 | 2012年 2月16日 | |
| 特開 2012-32323 | 画像測定装置、画像測定方法及び画像測定装置用のプログラム | 2012年 2月16日 | |
| 特開 2012-32224 | 寸法測定装置、寸法測定方法及び寸法測定装置用のプログラム | 2012年 2月16日 | |
| 特開 2012-34392 | 撮像装置 | 2012年 2月16日 | |
| 特開 2012-21909 | 画像処理装置及び外観検査方法 | 2012年 2月 2日 | |
| 特開 2012-21914 | 画像処理装置及び外観検査方法 | 2012年 2月 2日 | |
| 特開 2012-21919 | 画像処理装置、画像処理方法及びコンピュータプログラム | 2012年 2月 2日 | |
| 特開 2012-21856 | 干渉膜厚計 | 2012年 2月 2日 | |
| 特開 2012-18818 | 拡大観察装置及び拡大観察方法、拡大観察用プログラム並びにコンピュータで読み取り可能な記録媒体 | 2012年 1月26日 |
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2012-64173 2012-51032 2012-53059 2012-44680 2012-37257 2012-32344 2012-32341 2012-32323 2012-32224 2012-34392 2012-21909 2012-21914 2012-21919 2012-21856 2012-18818
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