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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第490位 71件
(2013年:第439位 92件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第503位 70件
(2013年:第439位 82件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特許 5581157 | 光学情報読取装置の照明設定支援装置 | 2014年 8月27日 | |
特許 5578819 | コリオリ質量流量計及びその補正方法 | 2014年 8月27日 | |
特許 5572319 | 安全光電スイッチ | 2014年 8月13日 | |
特許 5572561 | レンズモジュール、該レンズモジュールを用いた拡大観察装置、及び拡大観察方法 | 2014年 8月13日 | |
特許 5572497 | 光学情報読取システム及びその外部照明装置 | 2014年 8月13日 | |
特許 5565959 | 光電スイッチ | 2014年 8月 6日 | |
特許 5564348 | 画像処理装置及び外観検査方法 | 2014年 7月30日 | |
特許 5564346 | 拡大観察装置 | 2014年 7月30日 | |
特許 5564451 | 画像処理装置、画像処理方法及びコンピュータプログラム | 2014年 7月30日 | |
特許 5564349 | 画像処理装置及び外観検査方法 | 2014年 7月30日 | |
特許 5558286 | レーザーマーキング装置、レーザーマーカ用の加工条件設定装置及びコンピュータプログラム | 2014年 7月23日 | |
特許 5558285 | レーザーマーキング装置、レーザーマーカ用の加工情報設定装置及びコンピュータプログラム | 2014年 7月23日 | |
特許 5558091 | 光学式変位センサのセンサヘッド及びそのセンサヘッドを備える光学式変位センサ | 2014年 7月23日 | |
特許 5547105 | 寸法測定装置、寸法測定方法及び寸法測定装置用のプログラム | 2014年 7月 9日 | |
特許 5531071 | 画像計測装置及びコンピュータプログラム | 2014年 6月25日 |
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5581157 5578819 5572319 5572561 5572497 5565959 5564348 5564346 5564451 5564349 5558286 5558285 5558091 5547105 5531071
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2月10日(月) -
2月12日(水) -
2月13日(木) - 岐阜 大垣市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月13日(木) - 神奈川 綾瀬市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月14日(金) - 東京 大田
<エンジニア(技術者)および研究開発担当(R&D部門)向け> 基礎から学ぶ/自分で行うIPランドスケープ®の活用・実践 <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月14日(金) - 東京 千代田区
2月10日(月) -
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