株式会社キーエンス
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第439位 92件
（
2012年：第385位 107件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第439位 82件
（2012年：第306位 119件）
（ランキング更新日：2025年3月4日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社キーエンスの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
特許
5188100
|
拡大観察装置、拡大画像観察方法、拡大画像観察プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体 | 2013年 4月24日 | |
| 特許
5177830
|
接触式変位検出装置及び接触式変位検出装置における許容範囲指定方法 | 2013年 4月10日 | |
| 特許
5167309
|
光学式情報読取装置 | 2013年 3月21日 | |
| 特許
5166622
|
センサアンプ管理装置及びコンピュータプログラム | 2013年 3月21日 | |
| 特許
5156475
|
光走査型光電スイッチ | 2013年 3月 6日 | |
| 特許
5156476
|
光走査型光電スイッチ | 2013年 3月 6日 | |
| 特許
5154134
|
光学式変位計、光学式変位測定方法、光学式変位測定プログラム | 2013年 2月27日 | |
| 特許
5154392
|
撮像装置 | 2013年 2月27日 | |
| 特許
5154216
|
除電器 | 2013年 2月27日 | |
| 特許
5149984
|
撮像装置 | 2013年 2月20日 | |
| 特許
5144171
|
光学式変位計 | 2013年 2月13日 | |
| 特許
5139049
|
光電センサ | 2013年 2月 6日 | |
| 特許
5137054
|
多光軸光電センサ | 2013年 2月 6日 | |
| 特許
5132900
|
レーザ加工条件設定装置、レーザ加工装置、レーザ加工条件設定方法、レーザ加工条件設定プログラム | 2013年 1月30日 | |
| 特許
5134791
|
レーザ加工装置 | 2013年 1月30日 |
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5188100 5177830 5167309 5166622 5156475 5156476 5154134 5154392 5154216 5149984 5144171 5139049 5137054 5132900 5134791
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