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■ 2014年 出願公開件数ランキング 第10位 3091件
(2013年:第9位 3142件)
■ 2014年 特許取得件数ランキング 第7位 3244件
(2013年:第7位 3451件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2014-46151 | 算出プログラム、携帯電子機器及び算出方法 | 2014年 3月17日 | |
特開 2014-48256 | 二次イオン質量分析方法及び二次イオン質量分析装置 | 2014年 3月17日 | |
特開 2014-49657 | 光モジュール | 2014年 3月17日 | |
特開 2014-49112 | 情報処理装置、プログラム、およびジョブ制御方法 | 2014年 3月17日 | 共同出願 |
特開 2014-48883 | ストレージシステム、仮想化制御装置、情報処理装置、および、ストレージシステムの制御方法 | 2014年 3月17日 | 共同出願 |
特開 2014-48861 | RFIDタグスライド装置、RFIDシステム、ならびにRFIDタグデータの読み取りおよび書き込み方法 | 2014年 3月17日 | 共同出願 |
特開 2014-49165 | 半導体装置及びメモリ試験方法 | 2014年 3月17日 | 共同出願 |
特開 2014-45458 | 取付台及び電子機器 | 2014年 3月13日 | |
特開 2014-44597 | 情報処理装置、テストデータ作成装置、テストデータ作成方法、およびプログラム | 2014年 3月13日 | |
特開 2014-44124 | 二次イオン質量分析装置および二次イオン質量分析方法 | 2014年 3月13日 | |
特開 2014-44093 | 速度推定装置及び速度推定方法 | 2014年 3月13日 | |
特開 2014-44052 | 光ファイバ温度測定具及び温度分布測定システム | 2014年 3月13日 | |
特開 2014-44298 | リソグラフィ用リンス剤、レジストパターンの形成方法、及び半導体装置の製造方法 | 2014年 3月13日 | |
特開 2014-45216 | 治具の特定支援装置、治具の特定支援方法及び治具の特定支援プログラム | 2014年 3月13日 | |
特開 2014-44732 | マルチコアプロセッサシステム、制御方法および制御プログラム | 2014年 3月13日 |
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2014-46151 2014-48256 2014-49657 2014-49112 2014-48883 2014-48861 2014-49165 2014-45458 2014-44597 2014-44124 2014-44093 2014-44052 2014-44298 2014-45216 2014-44732
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3月18日(火) -
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