特許ランキング - 出願人詳細情報 -

富士通株式会社

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　■　2014年出願公開件数ランキング　　　第10位　3091件（2013年：第9位　3142件）

　■　2014年特許取得件数ランキング　　　第7位　3244件（2013年：第7位　3451件）

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富士通株式会社の商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2014-183130	半導体装置の製造方法	2014年 9月29日
特開 2014-182517	接触センサー装置、及び接触情報の検出方法	2014年 9月29日
特開 2014-182018	計測データの補正方法、計測データ監視システム及び計測データ監視プログラム	2014年 9月29日
特開 2014-181965	水位計、水位検出システム及び水位検出方法	2014年 9月29日
特開 2014-181964	レーダ装置及びプログラム	2014年 9月29日
特開 2014-181963	バイオフィルム形成センサ及び電子機器冷却システム	2014年 9月29日
特開 2014-181962	プローブピン及び電極のクリーニング機構、並びにクリーニング方法	2014年 9月29日
特開 2014-181941	観測システム、観測装置および観測方法	2014年 9月29日
特開 2014-181934	高さ標準試料およびその作製方法、並びに高さ標準試料の作製装置	2014年 9月29日
特開 2014-181933	算出装置、算出方法および算出プログラム	2014年 9月29日
特開 2014-182259	波長合分波器及び光集積回路装置	2014年 9月29日
特開 2014-182248	合焦位置検出装置、合焦位置検出方法及び合焦位置検出用コンピュータプログラム	2014年 9月29日
特開 2014-182221	光コネクタ	2014年 9月29日
特開 2014-182208	光伝送装置の製造方法及び製造装置、並びに光伝送装置	2014年 9月29日
特開 2014-182202	電子機器および光コネクタ	2014年 9月29日

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2014-183130 2014-182517 2014-182018 2014-181965 2014-181964 2014-181963 2014-181962 2014-181941 2014-181934 2014-181933 2014-182259 2014-182248 2014-182221 2014-182208 2014-182202

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