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■ 2019年 出願公開件数ランキング 第12951位 1件
(
2018年:第7458位 2件)
■ 2019年 特許取得件数ランキング 第3203位 4件
(
2018年:第2781位 5件)
(ランキング更新日:2025年12月26日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6523220 | 光散乱測定の補正方法、部分光損失測定装置、及びAVSDシステム | 2019年 5月29日 | |
| 特許 6523257 | 粒子検知システムおよび関連方法 | 2019年 5月29日 | |
| 特許 6517297 | 粒子の検出 | 2019年 5月22日 | |
| 特許 6475882 | フィルタバイパス | 2019年 2月27日 |
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6523220 6523257 6517297 6475882
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