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- 出願人詳細情報 -
出願人名に「国防科学研究所」を含むもの
| 公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
|---|---|---|---|
| 特許 5508598 | エックス線断層撮影を用いて材料内部の密度を分析する方法 | 国防科学研究所 | 2014年 6月 4日 |
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