特許ランキング
- 出願人詳細情報 -
出願人名に「国防科学研究所」を含むもの
| 公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
|---|---|---|---|
| 特許 5508598 | エックス線断層撮影を用いて材料内部の密度を分析する方法 | 国防科学研究所 | 2014年 6月 4日 |
1 件中 1-1 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。国防科学研究所の知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
3月21日(金) -
3月21日(金) -
3月21日(金) - 石川 金沢市
3月21日(金) -
3月24日(月) -
3月25日(火) - 東京 品川区
3月25日(火) -
3月26日(水) - 東京 港区
3月26日(水) -
3月26日(水) -
3月26日(水) -
3月26日(水) -
3月24日(月) -
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
東京都武蔵野市吉祥寺本町１丁目35-14-202 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 鑑定 コンサルティング
〒541-0046 大阪市中央区平野町２丁目２番９号 ビル皿井２階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
京都市伏見区深草大亀谷万帖敷町４４６－２ 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
