※ ログインすれば出願人(株式会社サンリッツ)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2011年 出願公開件数ランキング 第7099位 2件
(2010年:第13109位 1件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第24706位 0件
(2010年:第22882位 0件)
(ランキング更新日:2025年3月28日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2011-226957 | 偏光板の欠陥検査方法及び欠陥検査装置 | 2011年11月10日 | |
特開 2011-39465 | 液晶表示装置 | 2011年 2月24日 |
2 件中 1-2 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2011-226957 2011-39465
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社サンリッツの知財の動向チェックに便利です。
4月1日(火) - 山口 山口市
4月1日(火) -
4月2日(水) -
4月2日(水) -
4月4日(金) -
4月1日(火) - 山口 山口市
オーブ国際特許事務所(東京都)-ソフトウェア・電気電子分野専門
東京都千代田区飯田橋3-3-11新生ビル5階 特許・実用新案 商標 外国特許 鑑定
大阪市天王寺区上本町六丁目9番10号 青山ビル本館3階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒101-0032 東京都千代田区岩本町3-2-10 SN岩本町ビル9階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング