※ ログインすれば出願人(東芝メモリ株式会社)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2022年 出願公開件数ランキング 第37位 649件
(2021年:第59位 611件)
■ 2022年 特許取得件数ランキング 第221位 152件
(2021年:第324位 83件)
(ランキング更新日:2025年4月15日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2023年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 7163217 | 半導体記憶装置 | 2022年10月31日 | |
特許 7163221 | 高分子材料、組成物および半導体装置の製造方法 | 2022年10月31日 | |
特許 7163464 | 半導体装置 | 2022年10月31日 | |
特許 7158965 | メモリシステム | 2022年10月24日 | |
特許 7159036 | メモリデバイス | 2022年10月24日 | |
特許 7159069 | メモリシステムおよび制御方法 | 2022年10月24日 | |
特許 7159074 | ガス供給部材、プラズマ処理装置、及びコーティング膜の形成方法 | 2022年10月24日 | |
特許 7156605 | 処理装置及び処理方法 | 2022年10月19日 | |
特許 7154913 | 半導体装置及びその製造方法 | 2022年10月18日 | |
特許 7155028 | メモリシステムおよび制御方法 | 2022年10月18日 | |
特許 7155353 | メモリカード | 2022年10月18日 | |
特許 7150524 | 半導体装置 | 2022年10月11日 | |
特許 7150632 | 半導体装置の製造方法 | 2022年10月11日 | |
特許 7150638 | 半導体欠陥検査装置、及び、半導体欠陥検査方法 | 2022年10月11日 | |
特許 7146674 | パターン形成方法 | 2022年10月 4日 |
162 件中 16-30 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
7163217 7163221 7163464 7158965 7159036 7159069 7159074 7156605 7154913 7155028 7155353 7150524 7150632 7150638 7146674
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。東芝メモリ株式会社の知財の動向チェックに便利です。
〒170-0013 東京都豊島区東池袋3丁目9-10 池袋FNビル4階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒210-0024 神奈川県川崎市川崎区日進町3-4 unicoA 303 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒140-0002 東京都品川区東品川2丁目2番24号 天王洲セントラルタワー21F・22F 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング