東芝メモリ株式会社
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（
2021年：第59位 611件）
■ 2022年 特許取得件数ランキング 第221位 152件
（2021年：第324位 83件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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東芝メモリ株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7163217 | 半導体記憶装置 | 2022年10月31日 | |
| 特許 7163221 | 高分子材料、組成物および半導体装置の製造方法 | 2022年10月31日 | |
| 特許 7163464 | 半導体装置 | 2022年10月31日 | |
| 特許 7158965 | メモリシステム | 2022年10月24日 | |
| 特許 7159036 | メモリデバイス | 2022年10月24日 | |
| 特許 7159069 | メモリシステムおよび制御方法 | 2022年10月24日 | |
| 特許 7159074 | ガス供給部材、プラズマ処理装置、及びコーティング膜の形成方法 | 2022年10月24日 | |
| 特許 7156605 | 処理装置及び処理方法 | 2022年10月19日 | |
| 特許 7154913 | 半導体装置及びその製造方法 | 2022年10月18日 | |
| 特許 7155028 | メモリシステムおよび制御方法 | 2022年10月18日 | |
| 特許 7155353 | メモリカード | 2022年10月18日 | |
| 特許 7150524 | 半導体装置 | 2022年10月11日 | |
| 特許 7150632 | 半導体装置の製造方法 | 2022年10月11日 | |
| 特許 7150638 | 半導体欠陥検査装置、及び、半導体欠陥検査方法 | 2022年10月11日 | |
| 特許 7146674 | パターン形成方法 | 2022年10月 4日 |
162 件中 16-30 件を表示
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7163217 7163221 7163464 7158965 7159036 7159069 7159074 7156605 7154913 7155028 7155353 7150524 7150632 7150638 7146674
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