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- 出願人詳細情報 -
出願人名に「ナプソン株式会社」を含むもの
| 公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
|---|---|---|---|
| 特許 5555575 | ＰＮ型判定装置及びＰＮ型判定方法 | ナプソン株式会社 | 2014年 7月23日 |
| 特許 5547156 | シリコンと電極のオーミック・コンタクト形成方法と、シリコンのライフタイム測定方法とライフタイム測定ヘッド | ナプソン株式会社 | 2014年 7月 9日 |
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5555575 5547156
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