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公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
---|---|---|---|
特許 5103583 | X線ナノビーム強度分布の精密測定方法及びその装置 | 株式会社ジェイテック 他 | 2012年12月19日 |
特許 5070370 | 超精密形状測定方法及びその装置 | 株式会社ジェイテック 他 | 2012年11月14日 |
特許 5055479 | 自動細胞培養装置 | 株式会社ジェイテック | 2012年10月24日 |
特許 4904844 | 超精密形状測定方法 | 株式会社ジェイテック 他 | 2012年 3月28日 |
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5103583 5070370 5055479 4904844
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1月30日(木) -
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1月30日(木) - 東京 港区
1月31日(金) -
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2月4日(火) - 東京 港区
2月4日(火) - 神奈川 川崎市
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2月5日(水) - 東京 港区
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2月6日(木) - 東京 港区
2月6日(木) -
2月7日(金) -
2月7日(金) - 東京 港区
2月7日(金) - 神奈川 横浜市
2月7日(金) -
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