特許ランキング - 出願人詳細情報 -

ホーム > 特許ランキング > 株式会社村田製作所 > 2015年 > 特許一覧

株式会社村田製作所

※ ログインすれば出願人(株式会社村田製作所)をリストに登録できます。ログインについて

  2015年 出願公開件数ランキング    第37位 971件 上昇2014年:第41位 879件)

  2015年 特許取得件数ランキング    第36位 773件 上昇2014年:第38位 913件)

(ランキング更新日:2025年2月12日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年  2012年  2013年  2014年  2016年  2017年  2018年  2019年  2020年  2021年  2022年  2023年  2024年  2025年 

公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特許 5717056 フェライト磁器の製造方法 2015年 5月13日
特許 5712727 誘電体セラミックスラリーおよび積層セラミック電子部品 2015年 5月 7日
特許 5712729 通信システム 2015年 5月 7日
特許 5712970 サーミスタ 2015年 5月 7日
特許 5713025 弾性波装置及びその製造方法 2015年 5月 7日
特許 5713027 弾性表面波フィルタ装置 2015年 5月 7日
特許 5713103 光センサ装置 2015年 5月 7日
特許 5713104 携帯機器 2015年 5月 7日
特許 5713109 電界効果トランジスタ 2015年 5月 7日
特許 5713112 ESD保護デバイスおよびその製造方法 2015年 5月 7日
特許 5713134 アンテナ装置および通信端末装置 2015年 5月 7日
特許 5713145 高周波電力増幅回路用電源装置および高周波電力増幅装置 2015年 5月 7日
特許 5713148 磁性体コア内蔵樹脂多層基板の製造方法 2015年 5月 7日
特許 5713150 可変容量素子および通信装置 2015年 5月 7日
特許 5713224 弾性表面波デバイス及びその製造方法 2015年 5月 7日

778 件中 496-510 件を表示

をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

5717056 5712727 5712729 5712970 5713025 5713027 5713103 5713104 5713109 5713112 5713134 5713145 5713148 5713150 5713224

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社村田製作所の知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

  • このサイトをYahoo!ブックマークに登録
  • はてなブックマークに追加

特許ランキング

2025年 特許出願件数2025年 特許取得件数
2024年 特許出願件数2024年 特許取得件数
2023年 特許出願件数2023年 特許取得件数
2022年 特許出願件数2022年 特許取得件数
2021年 特許出願件数2021年 特許取得件数
2020年 特許出願件数2020年 特許取得件数
2019年 特許出願件数2019年 特許取得件数
2018年 特許出願件数2018年 特許取得件数
2017年 特許出願件数2017年 特許取得件数
2016年 特許出願件数2016年 特許取得件数
2014年 特許出願件数2014年 特許取得件数
2013年 特許出願件数2013年 特許取得件数
2012年 特許出願件数2012年 特許取得件数
2011年 特許出願件数2011年 特許取得件数
出願人を検索

今週の知財セミナー (2月10日~2月16日)

2月13日(木) - 岐阜 大垣市

つながる特許庁in大垣

来週の知財セミナー (2月17日~2月23日)

2月20日(木) - 東京 港区

はじめての欧米特許調査

特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介

浅村合同事務所

東京都品川区東品川2丁目2番24号 天王洲セントラルタワー 22階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング 

藤田特許商標事務所

〒104-0061 東京都中央区銀座1-8-2 銀座プルミエビル8階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング 

オーブ国際特許事務所(東京都)-ソフトウェア・電気電子分野専門

東京都千代田区飯田橋3-3-11新生ビル5階 特許・実用新案 商標 外国特許 鑑定