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力晶科技股▲ふん▼有限公司

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  2016年 出願公開件数ランキング    第1441位 17件 上昇2015年:第5202位 3件)

  2016年 特許取得件数ランキング    第1730位 11件 上昇2015年:第3984位 3件)

(ランキング更新日:2025年3月24日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特開 2016-212938 選択 半導体記憶装置 2016年12月15日
特開 2016-184676 選択 半導体記憶装置 2016年10月20日
特開 2016-170830 選択 不揮発性記憶装置のための書き込み回路及び方法、並びに不揮発性記憶装置 2016年 9月23日
特開 2016-162925 選択 MOMキャパシタ回路及び半導体装置 2016年 9月 5日
特開 2016-152050 選択 半導体記憶装置及び半導体集積回路装置 2016年 8月22日
特開 2016-146725 選択 電圧発生回路、レギュレータ回路、半導体記憶装置及び半導体装置 2016年 8月12日
特開 2016-143437 選択 半導体装置の制御回路及び方法、並びに半導体装置 2016年 8月 8日
特開 2016-134603 選択 トランジスタテスト回路及び方法、半導体記憶装置、並びに半導体装置 2016年 7月25日
特開 2016-134989 選択 負基準電圧発生回路 2016年 7月25日
特開 2016-130905 選択 負基準電圧発生システムとその製造方法 2016年 7月21日
特開 2016-103307 選択 内部電源電圧補助回路、半導体記憶装置及び半導体装置 2016年 6月 2日
特開 2016-95713 選択 内部電源電圧発生回路、半導体記憶装置及び半導体装置 2016年 5月26日
特開 2016-76679 選択 深井戸構造を備えるイメージセンサ及びその製造方法 2016年 5月12日
特開 2016-58709 選択 フラッシュメモリ構造、及びフラッシュメモリ構造を製造する方法 2016年 4月21日
特開 2016-46342 選択 半導体ウエハ、半導体チップ及び半導体装置とそれらの製造方法 2016年 4月 4日

17 件中 1-15 件を表示

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2016-212938 2016-184676 2016-170830 2016-162925 2016-152050 2016-146725 2016-143437 2016-134603 2016-134989 2016-130905 2016-103307 2016-95713 2016-76679 2016-58709 2016-46342

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