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■ 2025年 出願公開件数ランキング 第8442位 0件
(2024年:第5492位 3件)
■ 2025年 特許取得件数ランキング 第1351位 2件
(2024年:第3695位 4件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 7617722 | 光ラインセンサ部材及びその製造方法 | 2025年 1月20日 | |
特許 7608089 | 異物・欠陥検査装置、異物・欠陥検査における画像生成装置、及び異物・欠陥検査方法 | 2025年 1月 6日 |
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7617722 7608089
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2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
3月4日(火) - 東京 港区
3月4日(火) -
3月4日(火) -
3月4日(火) -
3月5日(水) -
3月5日(水) -
3月6日(木) -
3月6日(木) - 東京 品川区
3月6日(木) -
3月6日(木) - 東京 港区
3月6日(木) -
3月7日(金) -
3月7日(金) - 東京 港区
3月7日(金) -
3月7日(金) -
3月4日(火) - 東京 港区
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