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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第7815位 2件
(
2016年:第12189位 1件)
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第4057位 3件
(
2016年:第5777位 2件)
(ランキング更新日:2025年10月31日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6182236 | 積層体の剥離検査方法及び剥離検査装置 | 2017年 8月16日 | |
| 特許 6175091 | 渦電流検査装置及び渦電流検査方法 | 2017年 8月 2日 | |
| 特許 6153904 | 溶射膜の膜厚測定方法及び膜厚測定装置 | 2017年 6月28日 |
3 件中 1-3 件を表示
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6182236 6175091 6153904
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11月4日(火) -
11月4日(火) - 大阪 大阪市
11月4日(火) -
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11月5日(水) -
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11月6日(木) - 大阪 大阪市
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11月7日(金) -
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11月11日(火) - 東京 港区
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11月12日(水) -
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11月14日(金) - 東京 千代田区
11月14日(金) -
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11月14日(金) - 大阪 大阪市
11月14日(金) -
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