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出願人名に「スター テクノロジーズ インコーポレイテッド」を含むもの
| 公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
|---|---|---|---|
| 特開 2013-187533 | アバランシェ試験装置 | スター テクノロジーズ インコーポレイテッド | 2013年 9月19日 |
| 特開 2013-142691 | プローブの電気的接点を強化した構造を備えた集積回路用プローブカード | スター テクノロジーズ インコーポレイテッド | 2013年 7月22日 |
| 特開 2013-79934 | スイッチングマトリクスおよびその半導体素子の特性試験システム | スター テクノロジーズ インコーポレイテッド | 2013年 5月 2日 |
| 特開 2013-51387 | 電子回路板 | スター テクノロジーズ インコーポレイテッド | 2013年 3月14日 |
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2013-187533 2013-142691 2013-79934 2013-51387
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