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エイアー テスト システムズ
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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第7815位 2件
（
2016年：第33513位 0件）
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第5450位 2件
（2016年：第5777位 2件）
（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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エイアー テスト システムズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2017-41640 | ポータブルパックのコンポーネント内に一体に形成されたバルブを有するエレクトロニックテスター | 2017年 2月23日 | |
| 特開 2017-22403 | デバイスの集積回路を試験するためのシステム及びその使用方法 | 2017年 1月26日 |
2 件中 1-2 件を表示
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2017-41640 2017-22403
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