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テラダイン、 インコーポレイテッド
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■ 2019年 出願公開件数ランキング 第5600位 3件
（
2018年：第3054位 6件）
■ 2019年 特許取得件数ランキング 第2101位 7件
（
2018年：第3972位 3件）
（ランキング更新日：2025年10月28日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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テラダイン、 インコーポレイテッドの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6594309 | チャネル回路と自動試験システム | 2019年10月23日 | |
| 特許 6588921 | 半導体デバイスを試験する方法、製造する方法、プローブカード及び試験システム | 2019年10月 9日 | |
| 特許 6518682 | 半導体デバイスを試験する方法、製造する方法、デバイスインターフェース基板及び試験システム | 2019年 5月22日 | |
| 特許 6509841 | 自動試験システム、同システムを動作させる方法、及び同システム用の機器 | 2019年 5月 8日 | |
| 特許 6488244 | 半導体デバイスの同時試験の方法、製造方法、コンピュータ記憶媒体 | 2019年 3月20日 | |
| 特許 6473698 | カメラモジュールを試験するシステム、方法及びターゲット | 2019年 2月20日 | |
| 特許 6473736 | 自動テストシステムでの低待ち時間通信の方法及び装置 | 2019年 2月20日 |
7 件中 1-7 件を表示
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6594309 6588921 6518682 6509841 6488244 6473698 6473736
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