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出願人名に「ナノフォトン株式会社」を含むもの
| 公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
|---|---|---|---|
| 特許 5256433 | 散乱型近接場顕微鏡 | ナノフォトン株式会社 | 2013年 8月 7日 |
| 特許 5190603 | 光学顕微鏡、及び観察方法 | ナノフォトン株式会社 | 2013年 4月24日 |
| 特許 5135066 | 光学顕微鏡、及び観察方法 | ナノフォトン株式会社 他 | 2013年 1月30日 |
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5256433 5190603 5135066
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