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出願人名に「アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド」を含むもの

公報番号発明の名称出願人公報発行日
特開 2013-257304 検査画像内の欠陥を検出するためのシステム、方法及びコンピュータプログラム製品 アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド 2013年12月26日
特開 2013-251542 製造ツールのレシピを生成する方法及びそのシステム アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド 2013年12月12日
特開 2013-236087 トポグラフィック属性を利用した欠陥分類 アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド 2013年11月21日
特開 2013-232422 高スループットSEMツール アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド 2013年11月14日
特開 2013-225313 自動欠陥分類における分類器の準備及び保守 アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド 2013年10月31日
特開 2013-224942 自動欠陥分類のための未知欠陥除去の最適化 アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド 2013年10月31日
特開 2013-224943 自動及び手動欠陥分類の統合 アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド 2013年10月31日
特開 2013-225312 CADベースのコンテクスト属性を利用した欠陥分類 アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド 2013年10月31日
特開 2013-219001 光検出装置及び光電子増倍管にバイアスをかける方法 アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド 2013年10月24日
特開 2013-186128 ナノメートル寸法を有する特徴部のパラメータを評価するためのシステム、方法、及びコンピュータ読み取り可能媒体 アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド 2013年 9月19日
特開 2013-161795 走査電子顕微鏡画像を用いた3次元マッピング アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド 2013年 8月19日
特開 2013-162133 設計に基づく欠陥分類の方法及びそのシステム アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド 2013年 8月19日
特開 2013-162134 CADベースの位置合わせのためのシステム、方法、及びコンピュータプログラム製品 アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド 2013年 8月19日
特開 2013-161485 CADベースの位置合わせのためのシステム、方法、及びコンピュータプログラム製品 アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド 2013年 8月19日
特開 2013-130582 検査画像内の分類のためのシステム、方法、及びコンピュータプログラム製品 アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド 2013年 7月 4日

20 件中 1-15 件を表示

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2013-257304 2013-251542 2013-236087 2013-232422 2013-225313 2013-224942 2013-224943 2013-225312 2013-219001 2013-186128 2013-161795 2013-162133 2013-162134 2013-161485 2013-130582

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