ホーム > 特許ランキング > アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド > 2013年 > 出願公開一覧
| 公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
|---|---|---|---|
| 特開 2013-257304 | 検査画像内の欠陥を検出するためのシステム、方法及びコンピュータプログラム製品 | アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド | 2013年12月26日 |
| 特開 2013-251542 | 製造ツールのレシピを生成する方法及びそのシステム | アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド | 2013年12月12日 |
| 特開 2013-236087 | トポグラフィック属性を利用した欠陥分類 | アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド | 2013年11月21日 |
| 特開 2013-232422 | 高スループットSEMツール | アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド | 2013年11月14日 |
| 特開 2013-225313 | 自動欠陥分類における分類器の準備及び保守 | アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド | 2013年10月31日 |
| 特開 2013-224942 | 自動欠陥分類のための未知欠陥除去の最適化 | アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド | 2013年10月31日 |
| 特開 2013-224943 | 自動及び手動欠陥分類の統合 | アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド | 2013年10月31日 |
| 特開 2013-225312 | CADベースのコンテクスト属性を利用した欠陥分類 | アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド | 2013年10月31日 |
| 特開 2013-219001 | 光検出装置及び光電子増倍管にバイアスをかける方法 | アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド | 2013年10月24日 |
| 特開 2013-186128 | ナノメートル寸法を有する特徴部のパラメータを評価するためのシステム、方法、及びコンピュータ読み取り可能媒体 | アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド | 2013年 9月19日 |
| 特開 2013-161795 | 走査電子顕微鏡画像を用いた3次元マッピング | アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド | 2013年 8月19日 |
| 特開 2013-162133 | 設計に基づく欠陥分類の方法及びそのシステム | アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド | 2013年 8月19日 |
| 特開 2013-162134 | CADベースの位置合わせのためのシステム、方法、及びコンピュータプログラム製品 | アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド | 2013年 8月19日 |
| 特開 2013-161485 | CADベースの位置合わせのためのシステム、方法、及びコンピュータプログラム製品 | アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド | 2013年 8月19日 |
| 特開 2013-130582 | 検査画像内の分類のためのシステム、方法、及びコンピュータプログラム製品 | アプライド マテリアルズ イスラエル リミテッド | 2013年 7月 4日 |
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2013-257304 2013-251542 2013-236087 2013-232422 2013-225313 2013-224942 2013-224943 2013-225312 2013-219001 2013-186128 2013-161795 2013-162133 2013-162134 2013-161485 2013-130582
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