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■ 2019年 出願公開件数ランキング 第12951位 1件
(
2018年:第7458位 2件)
■ 2019年 特許取得件数ランキング 第8774位 1件
(
2018年:第23370位 0件)
(ランキング更新日:2025年12月26日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6620277 | めっき処理されたガラス基材の製造方法 | 2019年12月18日 | |
| 特許 6465348 | 電力用半導体デバイスのボンディングワイヤ電流磁界分布検出方法及び装置 | 2019年 2月 6日 | |
| 特許 6465349 | 電力用半導体デバイスのボンディングワイヤ電流磁界分布検査診断方法及び装置 | 2019年 2月 6日 |
3 件中 1-3 件を表示
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6620277 6465348 6465349
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1月7日(水) -
1月8日(木) -
1月8日(木) -
1月8日(木) -
1月8日(木) -
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1月9日(金) -
1月9日(金) -
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