ホーム > 特許ランキング > クラトス・アナリテイカル・リミテツド > 2011年 > 出願公開一覧
公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
---|---|---|---|
特表 2011-529247 | イオン軸方向空間分布の収束方法と装置 | クラトス・アナリテイカル・リミテツド | 2011年12月 1日 |
特表 2011-528166 | 無非点収差イメージングのためのTOF質量分析計および関連する方法 | クラトス・アナリテイカル・リミテツド | 2011年11月10日 |
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2011-529247 2011-528166
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5月12日(月) -
5月13日(火) - 東京 港区
5月14日(水) - 東京 港区
5月14日(水) -
5月15日(木) - 東京 港区
5月16日(金) - 東京 千代田区
5月16日(金) -
5月16日(金) - 東京 千代田区
5月16日(金) -
5月12日(月) -
5月19日(月) -
5月20日(火) - 東京 品川区
5月20日(火) -
5月21日(水) - 東京 港区
5月21日(水) - 東京 大田区
5月22日(木) - 東京 港区
5月22日(木) -
5月23日(金) - 東京 千代田区
5月23日(金) - 大阪 大阪市
5月19日(月) -
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