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出願人名に「クラトス・アナリテイカル・リミテツド」を含むもの
| 公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
|---|---|---|---|
| 特許 5341900 | 荷電粒子エネルギー分析計 | クラトス・アナリテイカル・リミテツド | 2013年11月13日 |
| 特許 5250166 | ＴＯＦ質量分析計用のイオン光学システム | クラトス・アナリテイカル・リミテツド | 2013年 7月31日 |
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5341900 5250166
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