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出願人名に「ムルティテスト・エレクトロニッシェ・ジステーメ・ゲーエムベーハー」を含むもの
| 公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
|---|---|---|---|
| 特許 5044575 | 電子部品試験装置 | ムルティテスト・エレクトロニッシェ・ジステーメ・ゲーエムベーハー | 2012年10月10日 |
| 特許 4948646 | 電子部品、特にＩＣを心出しするセンタリング装置 | ムルティテスト・エレクトロニッシェ・ジステーメ・ゲーエムベーハー | 2012年 6月 6日 |
| 特許 4910112 | 整列固定具の弾性ユニット受け入れ部にマウントされる別個の弾性部材としての弾性ユニット | ムルティテスト・エレクトロニッシェ・ジステーメ・ゲーエムベーハー | 2012年 4月 4日 |
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5044575 4948646 4910112
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