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出願人名に「ハイデルベルク・インストルメンツ・ミクロテヒニツク・ゲー・エム・ベー・ハー」を含むもの
| 公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
|---|---|---|---|
| 特開 2012-212172 | 電磁放射の光学的な分割および変調のための装置 | ハイデルベルク・インストルメンツ・ミクロテヒニツク・ゲー・エム・ベー・ハー | 2012年11月 1日 |
| 特表 2012-509498 | 放射線感応基板に撮像する方法および装置 | ハイデルベルク・インストルメンツ・ミクロテヒニツク・ゲー・エム・ベー・ハー | 2012年 4月19日 |
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2012-212172 2012-509498
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