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出願人名に「クウォリタウ・インコーポレーテッド」を含むもの
| 公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
|---|---|---|---|
| 特許 5313368 | 改良温度制御を備えた電気／信頼性試験のための統合されたユニット | クウォリタウ・インコーポレーテッド | 2013年10月 9日 |
| 特許 5199460 | ダイのパラメトリック試験のためのシステム及び方法 | クウォリタウ・インコーポレーテッド | 2013年 5月15日 |
| 特許 5118206 | コモンモード誤差を最小にした電圧検出測定ユニット | クウォリタウ・インコーポレーテッド | 2013年 1月16日 |
| 特許 5118035 | 垂直型プローブカード及び空冷式プローブヘッドシステム | クウォリタウ・インコーポレーテッド | 2013年 1月16日 |
4 件中 1-4 件を表示
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5313368 5199460 5118206 5118035
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