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公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
---|---|---|---|
特許 5313368 | 改良温度制御を備えた電気/信頼性試験のための統合されたユニット | クウォリタウ・インコーポレーテッド | 2013年10月 9日 |
特許 5199460 | ダイのパラメトリック試験のためのシステム及び方法 | クウォリタウ・インコーポレーテッド | 2013年 5月15日 |
特許 5118206 | コモンモード誤差を最小にした電圧検出測定ユニット | クウォリタウ・インコーポレーテッド | 2013年 1月16日 |
特許 5118035 | 垂直型プローブカード及び空冷式プローブヘッドシステム | クウォリタウ・インコーポレーテッド | 2013年 1月16日 |
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5313368 5199460 5118206 5118035
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3月24日(月) -
3月25日(火) - 東京 品川区
3月25日(火) -
3月26日(水) - 東京 港区
3月26日(水) -
3月26日(水) -
3月26日(水) -
3月26日(水) -
3月24日(月) -
4月1日(火) - 山口 山口市
4月1日(火) -
4月4日(金) -
4月1日(火) - 山口 山口市
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