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出願人名に「株式会社サキコーポレーション」を含むもの
| 公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
|---|---|---|---|
| 特開 2011-209296 | 外観検査方法および装置 | 株式会社サキコーポレーション | 2011年10月20日 |
| 特開 2011-209055 | 検査装置 | 株式会社サキコーポレーション | 2011年10月20日 |
| 特開 2011-209054 | 被検査体の放射線検査装置、放射線検査方法およびプログラム | 株式会社サキコーポレーション | 2011年10月20日 |
| 特開 2011-149738 | 補正用治具を用いた検査装置の補正方法、補正用治具を搭載した検査装置 | 株式会社サキコーポレーション | 2011年 8月 4日 |
| 特開 2011-149737 | 検査装置 | 株式会社サキコーポレーション | 2011年 8月 4日 |
| 特開 2011-149736 | 外観検査装置及び外観検査方法 | 株式会社サキコーポレーション | 2011年 8月 4日 |
| 特開 2011-95227 | 被検査体の放射線検査装置 | 株式会社サキコーポレーション | 2011年 5月12日 |
| 特開 2011-95226 | 被検査体の検査装置、及び電子基板の位置補正装置 | 株式会社サキコーポレーション | 2011年 5月12日 |
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2011-209296 2011-209055 2011-209054 2011-149738 2011-149737 2011-149736 2011-95227 2011-95226
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