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公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
---|---|---|---|
特許 5560488 | 磁場分布測定装置 | 日本電磁測器株式会社 | 2014年 7月30日 |
特許 5531286 | 磁粉濃度測定装置及び磁粉濃度測定方法 | 日本電磁測器株式会社 | 2014年 6月25日 |
特許 5500475 | 二流体ノズル | 日本電磁測器株式会社 他 | 2014年 5月21日 |
特許 5484953 | 磁粉探傷試験方法 | 日本電磁測器株式会社 | 2014年 5月 7日 |
特許 5399782 | 磁化器及び磁粉探傷装置 | 日本電磁測器株式会社 | 2014年 1月29日 |
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5560488 5531286 5500475 5484953 5399782
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2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月21日(金) -
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
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