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| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7686652 | 干渉利得レーザ装置 | 2025年 6月 2日 | |
| 特許 7684964 | 低コヒーレンス光干渉手法を用いた材料のレーザ加工のための機械における少なくとも1つの光学素子の局所位置を決定するための方法およびシステム | 2025年 5月28日 | |
| 特許 7670715 | パラレル干渉測定による物体を加工または測定するためのアセンブリでの光学系の素子の位置および前記アセンブリに対する前記物体の位置を決定するための方法およびシステム | 2025年 4月30日 | |
| 特許 7655912 | 低コヒーレンス光干渉法を用いてレーザ加工機の加工ヘッドと加工対象の物体の表面との間の分離距離を決定し制御するための方法およびシステム | 2025年 4月 2日 |
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7686652 7684964 7670715 7655912
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11月5日(水) -
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11月7日(金) -
11月7日(金) -
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