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出願人名に「シーウェア・システムズ」を含むもの
| 公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
|---|---|---|---|
| 特許 5204450 | 光分岐を使用する、マイクロ機械加工した干渉計のためのシステム、方法、および装置 | シーウェア・システムズ | 2013年 6月 5日 |
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