| 公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
|---|---|---|---|
| 特許 4958308 | 応答特性測定装置 | 京都府 他 | 2012年 6月20日 |
| 特許 4904500 | 豆粒の良否判別方法及び豆粒選別装置 | 京都府 他 | 2012年 3月28日 |
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4958308 4904500
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12月8日(月) - 愛知 名古屋市
12月9日(火) - 大阪 大阪市
12月10日(水) - 東京 千代田区
12月10日(水) -
12月10日(水) -
12月10日(水) -
12月11日(木) -
12月11日(木) -
12月11日(木) -
12月11日(木) -
12月12日(金) -
12月12日(金) -
12月12日(金) -
12月12日(金) -
12月8日(月) - 愛知 名古屋市
12月15日(月) -
12月15日(月) -
12月15日(月) -
12月15日(月) -
12月15日(月) -
12月16日(火) - 東京 千代田区
12月16日(火) -
12月16日(火) -
12月17日(水) -
12月17日(水) -
12月17日(水) -
12月18日(木) -
12月18日(木) -
12月18日(木) -
12月19日(金) - 東京 千代田区
12月19日(金) - 山口 山口市
12月19日(金) - 大阪 大阪市
【大阪会場】 前田知財塾 ~スキルアップ編~ 知財の仕事を、もっと深く、もっと面白く! 第2回 「特許権侵害判断・回避構造の検討」
12月19日(金) -
12月19日(金) -
12月15日(月) -
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