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出願人名に「株式会社日立国際電気エンジニアリング」を含むもの
| 公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
|---|---|---|---|
| 特開 2011-255320 | 超音波発振装置 | 株式会社日立国際電気エンジニアリング | 2011年12月22日 |
| 特開 2011-237345 | 長寸法測定装置 | 株式会社日立国際電気エンジニアリング | 2011年11月24日 |
| 特開 2011-211060 | 半導体ウェーハ抵抗率測定装置 | 株式会社日立国際電気エンジニアリング | 2011年10月20日 |
| 特開 2011-183300 | 超音波洗浄装置 | 株式会社日立国際電気エンジニアリング | 2011年 9月22日 |
| 特開 2011-180718 | 反射型侵入監視装置 | 株式会社日立国際電気エンジニアリング | 2011年 9月15日 |
| 特開 2011-139212 | 状態表示装置 | 株式会社日立国際電気エンジニアリング 他 | 2011年 7月14日 |
| 特開 2011-115717 | 超音波洗浄装置 | 株式会社日立国際電気エンジニアリング | 2011年 6月16日 |
| 特開 2011-83699 | 超音波発生装置 | 株式会社日立国際電気エンジニアリング | 2011年 4月28日 |
| 特開 2011-33345 | 侵入者検知装置 | 株式会社日立国際電気エンジニアリング | 2011年 2月17日 |
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2011-255320 2011-237345 2011-211060 2011-183300 2011-180718 2011-139212 2011-115717 2011-83699 2011-33345
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