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- 出願人詳細情報 -
出願人名に「学校法人金井学園」を含むもの
| 公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
|---|---|---|---|
| 特開 2012-145404 | 超音波センサの冷却装置 | 学校法人金井学園 他 | 2012年 8月 2日 |
| 特開 2012-94596 | 集光発電装置 | 学校法人金井学園 他 | 2012年 5月17日 |
| 特開 2012-47665 | 導電ケーブルにおける被覆絶縁体の劣化測定装置および劣化測定方法 | 学校法人金井学園 | 2012年 3月 8日 |
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2012-145404 2012-94596 2012-47665
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