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公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
---|---|---|---|
特許 5356051 | 非接触導通試験方法および装置 | アヅサテック株式会社 | 2013年12月 4日 |
特許 5231121 | 回路検査装置 | アヅサテック株式会社 | 2013年 7月10日 |
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5356051 5231121
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10月4日(金) - 北海道 札幌市
10月4日(金) - 北海道 札幌市
10月7日(月) -
10月7日(月) - 大阪 大阪市
10月8日(火) - 東京 品川
10月8日(火) - 東京 中央区
10月9日(水) - 東京 港
10月9日(水) -
10月10日(木) - 東京 港
10月10日(木) -
10月11日(金) -
10月11日(金) - 兵庫 神戸市
10月11日(金) -
10月11日(金) -
10月7日(月) -
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