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パナリティカル ビー ヴィ
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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第2731位 7件
（
2017年：第34787位 0件）
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第3972位 3件
（2017年：第8798位 1件）
（ランキング更新日：2025年6月4日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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パナリティカル ビー ヴィの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2018-205312 | 蛍光Ｘ線を用いた圧粉サンプルの測定 | 2018年12月27日 | |
| 特開 2018-173403 | 高分解能Ｘ線回折方法および装置 | 2018年11月 8日 | |
| 特開 2018-105859 | 層状サンプルのＸＲＦによる分析 | 2018年 7月 5日 | |
| 特開 2018-105862 | グレージング入射Ｘ線反射率独立モデル | 2018年 7月 5日 | |
| 特開 2018-105865 | コンピュータトモグラフィ | 2018年 7月 5日 | |
| 特開 2018-91850 | Ｘ線測定のための円錐コリメータ | 2018年 6月14日 | |
| 特開 2018-13485 | Ｘ線分析のためのサンプルホルダ | 2018年 1月25日 |
7 件中 1-7 件を表示
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2018-205312 2018-173403 2018-105859 2018-105862 2018-105865 2018-91850 2018-13485
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