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公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
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特開 2012-233919 | 座標測定装置及び測定物の測定方法 | ベルス・メステヒニーク・ゲーエムベーハー | 2012年11月29日 |
特開 2012-137498 | 座標測定装置ならびに座標測定装置を用いて加工物の幾何形状を測定する方法 | ベルス・メステヒニーク・ゲーエムベーハー | 2012年 7月19日 |
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2012-233919 2012-137498
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2月20日(木) - 東京 港区
2月20日(木) -
2月20日(木) -
2月20日(木) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 千代田区
2月21日(金) - 東京 大田
パテントマップを用いた知財戦略の策定方法 -自社が勝つパテントマップ作成と それを活用した開発戦略・知財戦略の実践方法- <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月21日(金) -
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月20日(木) - 東京 港区
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -