公報番号 | 発明の名称 | 出願人 | 公報発行日 |
---|---|---|---|
特許 5261117 | 測定対象物の重心位置計測装置 | エム・エイチ・アイさがみハイテック株式会社 | 2013年 8月14日 |
特許 5134308 | 材料排出装置のシール構造 | 東洋ハイテック株式会社 | 2013年 1月30日 |
特許 5123022 | 光触媒式空気浄化装置 | アークハイテック株式会社 他 | 2013年 1月16日 |
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5261117 5134308 5123022
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2月6日(木) - 東京 港区
2月6日(木) -
2月7日(金) -
2月7日(金) - 東京 港区
2月7日(金) - 神奈川 横浜市
2月7日(金) -
2月7日(金) -
2月6日(木) - 東京 港区
2月10日(月) -
2月12日(水) -
2月13日(木) - 岐阜 大垣市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月13日(木) - 神奈川 綾瀬市
2月13日(木) -
2月13日(木) -
2月14日(金) - 東京 大田
<エンジニア(技術者)および研究開発担当(R&D部門)向け> 基礎から学ぶ/自分で行うIPランドスケープ®の活用・実践 <東京会場受講(対面)/Zoomオンライン受講 選択可> <見逃し視聴選択可>
2月14日(金) - 東京 千代田区
2月10日(月) -
Floor 16, Tower A, InDo Building, A48 Zhichun Road, Haidian District, Beijing 100098, P.R. China 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
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